(для работников и обучающихся УУНиТ) Заказать услугу
(для сторонних физических и юридических лиц) Заказать услугу
Отсканированную копию заполненной и подписанной заявки необходимо направить по адресу nanotech@ugatu.su;
оригинальный экземпляр заполненной и подписанной заявки предоставить в ЦКП «Нанотех» в течение месяца
Виды работ на D2 Phaser:
рентгеноструктурный анализ;
рентгенофазовый анализ;
анализ остаточных напряжений
Рентгеновский дифрактометр D2 Phaser – настольный дифрактометр с параметрами стационарного прибора, предназначенный для решения большинства задач порошковой рентгенографии: качественного и количественного фазового анализа, определения параметров элементарной ячейки, размеров кристаллитов, степени кристалличности, напряжений в кристаллической решетке. Комбинация инновационных технологий позволила создать настольный дифрактометр по аналитическим возможностям аналогичный большим стационарным системам, который с легкостью транспортируется и позволяет получить все преимущества порошковой дифрактометрии в отсутствие каких-либо дополнительных устройств. Это полностью автономный прибор, для которого необходимо только подключение к сети переменного тока. Он может быть установлен вне лаборатории на обычном столе, управляется мощным встроенным компьютером, который служит не только для получения дифракционных данных, но и для их обработки и интерпретации.
 |
Наименование: |
D2 Phaser |
|
Производитель: |
Bruker (Германия) |
|
|
Год выпуска: |
||
|
Категория: |
Дифрактометры |
|
|
Тип: |
Рентгеновские дифрактометры |
|
|
Поверка: |
||
|
Помещение: |
2-220 |
|
|
Подразделение: |
лаборатория ЦКП «Нанотех» |
|
|
Стоимость услуги: |
от 2 500 руб. |
|
|
Балансовая стоимость: |
|
Технические характеристики
| Рентгеновская трубка | Cu, Co |
| Геометрия гониометра | вертикальный, Theta/Theta |
| Радиус гониометра, мм | 140 |
| Диапазон углов сканирования 2θ, ° | -3...160 |
| Минимальный шаг 2θ, ° | 0,01 |
| Пространственное разрешение детектора, мкм | 75 |
| Автоматическая юстировка рентгеновской оптики | |
Преимущества модели D2 Phaser
Описание метода РСА
Рентгеноструктурный анализ (РСА, XDA) – это метод исследования строения тел, использующий явление дифракции рентгеновских лучей, метод исследования структуры вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Дифракционная картина зависит от длины волны используемых рентгеновских лучей и строения объекта. Для исследования атомной структуры применяют излучение с длиной волны ~1Å, т. е. порядка размеров атома.
Методами рентгеноструктурного анализа изучают металлы, сплавы, минералы, неорганические и органические соединения, полимеры, аморфные материалы, жидкости и газы, молекулы белков, нуклеиновых кислот и т. д. Рентгеноструктурный анализ является основным методом определения структуры кристаллов. При исследовании кристаллов он даёт наибольшую информацию. Это обусловлено тем, что кристаллы обладают строгой периодичностью строения и представляют собой созданною самой природой дифракционную решётку для рентгеновских лучей. Однако он доставляет ценные сведения и при исследовании тел с менее упорядоченной структурой, таких, как жидкости, аморфные тела, жидкие кристаллы, полимеры и другие. На основе многочисленных уже расшифрованных атомных структур может быть решена и обратная задача: по рентгенограмме поликристаллического вещества, например легированной стали, сплава, руды, лунного грунта, может быть установлен кристаллический состав этого вещества, то есть выполнен фазовый анализ.
Действительное местоположение в 2-220
