(для работников и обучающихся УУНиТ) Заказать услугу
(для сторонних физических и юридических лиц) Заказать услугу
Отсканированную копию заполненной и подписанной заявки необходимо направить по адресу nanotech@ugatu.su;
оригинальный экземпляр заполненной и подписанной заявки предоставить в ЦКП «Нанотех» в течение месяца
Виды работ на JEM-2100:
просвечивающая электронная микроскопия;
исследование микроструктуры материалов;
анализ микроструктуры (микроструктурный анализ)
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 предназначен для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов методом просвечивающей электронной микроскопии. Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
 |
Наименование: |
JEM-2100 |
|
Производитель: |
||
|
Год выпуска: |
2008 | |
|
Категория: |
||
|
Тип: |
||
|
Поверка: |
||
|
Помещение: |
3-109 |
|
|
Подразделение: |
лаборатория ЦКП «Нанотех» |
|
|
Стоимость услуги: |
от 4 500 руб. |
|
|
Балансовая стоимость: |
|
Технические характеристики
| Увеличение, крат | 50...1500000 |
| Предельное разрешение в режиме ПЭМ, нм |
по точкам: 0,19, по линиям: 0,14 |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 80...200 |
Описание метода металлографии
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ, TEM) предполагает изучение тонких образцов с помощью пучка электронов, проходящих сквозь них и взаимодействующих с ними. Электроны, прошедшие сквозь образец, фокусируются на устройстве формирования изображения: флюоресцентном экране, фотопластинке или сенсоре ПЗС-камеры. Благодаря меньшей, чем у света, длине волны электронов, ПЭМ позволяет изучать образцы с разрешением в десятки тысяч раз превосходящим разрешение самого совершенного светооптического микроскопа. С помощью ПЭМ возможно изучение объектов даже на атомарном уровне. ПЭМ является одним из основных методов исследования в целом ряде прикладных областей физики, биологии, материаловедения и др.
Современные ПЭМ имеют режимы работы, позволяющие изучать элементный состав образцов, ориентацию кристаллов, фазовый сдвиг электронов и т. п.
Действительное местоположение в 3-109
