(для работников и обучающихся УУНиТ) Заказать услугу
(для сторонних физических и юридических лиц) Заказать услугу
Виды работ на JPS9010-MX:
рентгеновская фотоэлектронная спектрометрия;
определение химического состава поверхности;
химический анализ поверхности
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS9010-MX предназначен для высокоточного исследования элементного (химического) состава и типов химической связи на поверхности и по глубине поверхностного слоя исследуемых образцов. Возможно послойное тестирование большого количества материалов, включая металлы, полупроводники, высокомолекулярные полимеры и др. на различных этапах (технологиях) их изготовления, а также после длительной эксплуатации (при воздействиях температуры, окислительной среды, нагрузки). Данный спектрометр эффективно используется для контроля технологических параметров и режимов нанесения наноструктурных покрытий на поверхность деталей, а также для оценки их эксплуатационных характеристик.
 |
Наименование: |
JPS9010-MX |
|
Производитель: |
Jeol (Япония) |
|
|
Год выпуска: |
2011 | |
|
Категория: |
Спектрометры |
|
|
Тип: |
Оборудование для анализа состава поверхности |
|
|
Поверка: |
не требуется | |
|
Помещение: |
2-220 |
|
|
Подразделение: |
лаборатория ЦКП «Нанотех» |
|
|
Стоимость услуги: |
от 8 000 руб. |
|
|
Балансовая стоимость: |
|
Технические характеристики
| Чувствительность и разрешение | |
|
* для фотоэлектрона Ag3d5/2, измеренного на чистом и плоском образце Ag |
|
| Стандартный источник рентгеновского излучения (эквивалент возбуждения MgKα 300 Вт) | |
| Чувствительность, имп/с | Разрешение, эВ |
| 540 000 | 0,90 |
| 1 800 000 | 1,15 |
| 5 000 000 | 1,80 |
| Источник монохроматического рентгеновского излучения (эквивалент возбуждения AlKα 600 Вт) | |
| Чувствительность, имп/с | Разрешение, эВ |
| 65 000 | 0,65 |
| Источник рентгеновского излучения | |
| Стандартный источник рентгеновского излучения (двойная мишень Al/Mg) | |
| Максимальная мощность |
Mg 500W Al 600W |
| Анализатор энергии и система падающих линз | |
| Падающая линза | 3-ступенчатая цилиндрическая электростатическая линза |
| Система развертки по энергии | метод постоянной энергии анализатора |
| Вакуумная система эвакуации | |
| Предельное давление, Па, не более | 7×10-8 |
| Механизм отжига | внутренний встроенный нагреватель, автоматическое управление |
Преимущества модели JPS9010-MX
Описание метода РФЭС
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС, XPS) является широко используемым методом химического анализа поверхностей, который применяется для анализа химического состояния материала как в первоначальном состоянии, так и после некоторой обработки.
Действительное местоположение в 2-220
