(для работников и обучающихся УУНиТ) Заказать услугу
(для сторонних физических и юридических лиц) Заказать услугу
Отсканированную копию заполненной и подписанной заявки необходимо направить по адресу nanotech@ugatu.su;
оригинальный экземпляр заполненной и подписанной заявки предоставить в ЦКП «Нанотех» в течение месяца
Виды работ на JSM-6390LV:
растровая (сканирующая) электронная микроскопия;
исследование микроструктуры материалов;
анализ микроструктуры (микроструктурный анализ)
Растровый электронный микроскоп JSM-6390LV обеспечивает электронно-микроскопические и рентгеноспектральные исследования объектов различной природы: анализ морфологии, микроструктуры, особенностей тонкого строения, фазовой неоднородности, дисперсности, качественный и количественный элементный анализ в микрообъемах для решения фундаментальных и прикладных задач материаловедения, машиностроения, геологии, геоэкологии, междисциплинарных исследований и т. д.
 |
Наименование: |
JSM-6390LV |
|
Производитель: |
||
|
Год выпуска: |
||
|
Категория: |
||
|
Тип: |
||
|
Поверка: |
||
|
Помещение: |
3-109 |
|
|
Подразделение: |
лаборатория ЦКП «Нанотех» | |
|
Стоимость услуги: |
договорная |
|
|
Балансовая стоимость: |
|
Технические характеристики
| Увеличение, крат | 5...300000 |
| Предельное разрешение, нм | 3,0 |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 0,5...30 |
| Максимальный размер исследуемого образца, мм | 150 |
Описание растровой электронной микроскопии
Растровая электронная микроскопия (РЭМ, сканирующая электронная микроскопия, СЭМ, REM)
Действительное местоположение в 3-109
