(для работников и обучающихся УУНиТ) Заказать услугу
(для сторонних физических и юридических лиц) Заказать услугу
Отсканированную копию заполненной и подписанной заявки необходимо направить по адресу nanotech@ugatu.su;
оригинальный экземпляр заполненной и подписанной заявки предоставить в ЦКП «Нанотех» в течение месяца
Виды работ на JSM-6490LV:
растровая (сканирующая) электронная микроскопия;
исследование микроструктуры материалов;
анализ микроструктуры (микроструктурный анализ)
Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV позволяет проводить тонкие исследования поверхности образцов, фрактографический анализ изломов и деформационного рельефа, определение размеров частиц и пор. Оснащен приставкой – энергодисперсионным спектрометром (EDS) – для элементного химического анализа. Электронная оптическая система обеспечивает коррекцию хроматической и сферической абберации. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменными.
РЭМ JSM-6490LV позволяет изучать непроводящие образцы без всякого препарирования, а затем анализировать их с помощью энергодисперсионного спектрометра.
 |
Наименование: |
JSM-6490LV |
|
Производитель: |
||
|
Год выпуска: |
2008 | |
|
Категория: |
||
|
Тип: |
||
|
Поверка: |
||
|
Помещение: |
7-110 |
|
|
Подразделение: |
лаборатория ЦКП «Нанотех» |
|
|
Стоимость услуги: |
от 3 000 руб. |
|
|
Балансовая стоимость: |
|
Технические характеристики
| Увеличение, крат | 25...2000000 |
| Предельное разрешение, нм | 0,6 |
| Ускоряющее напряжение, кВ | 0,3...30 |
| Виды контраста (вторичные и отраженные электроны) | топографический, композиционный, теневой |
| Максимальные размеры образцов, мм |
высота до 45, диаметр до 200 |
Описание растровой электронной микроскопии
Растровая электронная микроскопия (РЭМ, сканирующая электронная микроскопия, СЭМ, REM)
Действительное местоположение в 7-110
