Микроскопы предназначены для измерения линейных размеров и исследования структуры и рельефа поверхности на макро- и микро- уровнях.
Классификация оборудования – «Микроскопы»
По типам:
Список оборудования – «Микроскопы»
| № | Наименование | Производитель (страна) | Код по классификатору |
| 1 |
Carl Zeiss (Германия) |
03.01.02.05.06 Микроскопы металлографические |
|
| 2 |
Металлографический микроскоп 4XC |
ООО «Восток-7» (Россия) |
03.01.02.05.06 Микроскопы металлографические |
| 3 |
Микроскоп инвертированный для биологических исследований IXP53P1F |
Olympus (Япония) |
03.01.02.05.15 Микроскопы инвертированные |
| 4 |
Carl Zeiss (Германия) |
03.01.02.05.06 Микроскопы металлографические |
|
| 5 |
Walter Uhl (Германия) |
02.06.03.02.00 Приборы для измерения линейных размеров |
|
| 6 |
NT MDT (Россия) |
03.01.05.01.01 Микроскопы атомно-силовые сканирующие |
|
| 7 |
Jeol (Япония) |
03.01.01.02.01 Мискроскопы просвечивающие с приставкой для анализа электронной дифракции |
|
| 8 |
Jeol (Япония) |
03.01.01.01.03 Микроскопы сканирующие высокого разрешения |
|
| 9 |
Jeol (Япония) |
03.01.01.01.03 Микроскопы сканирующие высокого разрешения |
|
| 10 |
Сканирующий электронный микроскоп MIRA LMS |
TESCAN (Чехия) |
03.01.01.01.01 Микроскопы электронные сканирующие с приставкой EDX-анализа |
| Микроскопы электронные | |||
| Микроскопы электронные сканирующие (растровые) | |||
| № | Наименование | Производитель | Код по классификатору |
| 1 |
Сканирующий электронный микроскоп MIRA LMS |
TESCAN (Чехия) |
03.01.01.01.01 Микроскопы электронные сканирующие с приставкой EDX-анализа |
| 2 |
Jeol (Япония) |
03.01.01.01.03 Микроскопы сканирующие высокого разрешения |
|
| 3 |
Jeol (Япония) |
03.01.01.01.03 Микроскопы сканирующие высокого разрешения |
|
| Микроскопы просвечивающие | |||
| № | Наименование | Производитель | Код по классификатору |
| 4 |
Jeol (Япония) |
03.01.01.02.01 Мискроскопы просвечивающие с приставкой для анализа электронной дифракции |
|
| Микроскопы оптические | |||
| Микроскопы металлографические | |||
| № | Наименование | Производитель | Код по классификатору |
| 1 |
Carl Zeiss (Германия) |
03.01.02.05.06 Микроскопы металлографические |
|
| 2 |
Металлографический микроскоп 4XC |
ООО «Восток-7» (Россия) |
03.01.02.05.06 Микроскопы металлографические |
| 3 |
Carl Zeiss (Германия) |
03.01.02.05.06 Микроскопы металлографические |
|
| Микроскопы инвертированные | |||
| № | Наименование | Производитель | Код по классификатору |
| 4 |
Микроскоп инвертированный для биологических исследований IXP53P1F |
Olympus (Япония) |
03.01.02.05.15 Микроскопы инвертированные |
| Микроскопы измерительные | |||
| № | Наименование | Производитель | Код по классификатору |
| 5 |
Walter Uhl (Германия) |
02.06.03.02.00 Приборы для измерения линейных размеров |
|
| Микроскопы зондовые сканирующие | |||
| Микроскопы атомно-силовые (сканирующие) | |||
| № | Наименование | Производитель | Код по классификатору |
| 1 |
NT MDT (Россия) |
03.01.05.01.01 Микроскопы атомно-силовые сканирующие |
|
