(для работников и обучающихся УУНиТ) Заказать услугу

(для сторонних физических и юридических лиц) Заказать услугу

Отсканированную копию заполненной и подписанной заявки необходимо направить по адресу nanotech@ugatu.su;

оригинальный экземпляр заполненной и подписанной заявки предоставить в ЦКП «Нанотех» в течение месяца

---

Виды работ на Ntegra II Prima:

атомно-силовая микроскопия;

зондовая микроскопия;

определение рельефа поверхности

---

 

Микроскоп сканирующий зондовый (атомно-силовой) Ntegra II Prima поддерживает более 40 СЗМ методик измерений, делая возможным получение многосторонней информации о топографии и физико-химических параметрах поверхности образцов. Благодаря открытой платформе прибор позволяет работать как на воздухе, так и в контролируемой среде или в жидкости.

 

	Наименование:	Ntegra II Prima
	Производитель:	NT MDT (Россия)
	Год выпуска:	2007
	Категория:	Микроскопы
	Тип:	Сканирующие зондовые
	Поверка:
	Помещение:	2-220
	Подразделение:	лаборатория ЦКП «Нанотех»
	Стоимость услуги:	договорная
	Балансовая стоимость:

 

---

 

Технические характеристики

 

	Тип сканирования
	Сканирование образцом	Сканирование зондом
Размер образца, мм	до 40 в диаметре, до 15 в высоту	до 100 в диаметре, до 15 в высоту
Вес образца, г	до 100	до 300
Разрешение позиционирования, мкм	разрешение – 5, минимальное перемещение – 2

 

---

 

Описание метода АСМ

 

Атомно-силовая микроскопия (АСМ, atomic-force microscopy, AFM) – один из видов сканирующей зондовой микроскопии, основанный на ван-дер-ваальсовских взаимодействиях зонда с поверхностью образца. Принцип действия атомного силового микроскопа основан на использовании сил атомных связей, действующих между атомами вещества. На малых расстояниях между двумя атомами действуют силы отталкивания, а на больших – силы притяжения. Совершенно аналогичные силы действуют и между любыми сближающимися телами. В сканирующем атомном силовом микроскопе такими телами служат исследуемая поверхность и скользящее над нею острие. В результате, можно строить объёмный рельеф поверхности образца в режиме реального времени.

 

---

 

Действительное местоположение в 2-220