(для работников и обучающихся УУНиТ) Заказать услугу
(для сторонних физических и юридических лиц) Заказать услугу
Виды работ на Ntegra II Prima:
атомно-силовая микроскопия;
зондовая микроскопия;
определение рельефа поверхности
Микроскоп сканирующий зондовый (атомно-силовой) Ntegra II Prima поддерживает более 40 СЗМ методик измерений, делая возможным получение многосторонней информации о топографии и физико-химических параметрах поверхности образцов. Благодаря открытой платформе прибор позволяет работать как на воздухе, так и в контролируемой среде или в жидкости.
 |
Наименование: |
Ntegra II Prima |
|
Производитель: |
NT MDT (Россия) |
|
|
Год выпуска: |
2007 | |
|
Категория: |
Микроскопы |
|
|
Тип: |
Сканирующие зондовые |
|
|
Поверка: |
||
|
Помещение: |
2-220 |
|
|
Подразделение: |
лаборатория ЦКП «Нанотех» |
|
|
Стоимость услуги: |
договорная |
|
|
Балансовая стоимость: |
|
Технические характеристики
| Параметры | Тип сканирования | |
| Сканирование образцом | Сканирование зондом | |
| Размер образца, мм |
до 40 в диаметре, до 15 в высоту |
до 100 в диаметре, до 15 в высоту |
| Вес образца, г | до 100 | до 300 |
| Разрешение позиционирования, мкм |
разрешение – 5, минимальное перемещение – 2 |
|
Описание метода АСМ
Атомно-силовая микроскопия (АСМ, atomic-force microscopy, AFM) – один из видов сканирующей зондовой микроскопии, основанный на ван-дер-ваальсовских взаимодействиях зонда с поверхностью образца. Принцип действия атомного силового микроскопа основан на использовании сил атомных связей, действующих между атомами вещества. На малых расстояниях между двумя атомами действуют силы отталкивания, а на больших – силы притяжения. Совершенно аналогичные силы действуют и между любыми сближающимися телами. В сканирующем атомном силовом микроскопе такими телами служат исследуемая поверхность и скользящее над нею острие. В результате, можно строить объёмный рельеф поверхности образца в режиме реального времени.
Действительное местоположение в 2-220
