(для работников и обучающихся УУНиТ) Заказать услугу

(для сторонних физических и юридических лиц) Заказать услугу

Виды работ на Ultima IV:

рентгеноструктурный анализ;

рентгенофазовый анализ;

качественный и количественный фазовый анализ;

определение размеров частиц и пор;

анализ остаточных напряжений

Рентгеновский дифрактометр Ultima IV предназначен для решения различных технологических и научно-исследовательских задач материаловедения: качественный и количественный фазовый анализ методом внешних стандартов (RIR); определение тонкой структуры, в частности параметра кристаллической решетки, величины межплоскостного расстояния, периодов идентичности и типа решетки Бравэ, плотности дефектов (дислокаций) и т. п.; определение структурных характеристик и анализ степени чистоты кристаллических материалов; определение величины и характера распределения остаточных напряжений в материалах и покрытиях как в локальных областях, так и по всей рабочей поверхности образца, включая крупногабаритные объекты диаметром до 300 мм и высотой до 250 мм; картирование фазового состава и структурных характеристик по площади монолитных образцов; исследование фазовых превращений и химических реакций в специальных условиях и др.

	Наименование:	Ultima IV
	Производитель:	Rigaku (Япония)
	Год выпуска:	2008
	Категория:	Дифрактометры
	Тип:	Рентгеновские дифрактометры
	Поверка:
	Помещение:	7-110
	Подразделение:	лаборатория ЦКП «Нанотех»
	Стоимость услуги:	от 3 500 руб.
	Балансовая стоимость:

Технические характеристики

Описание метода РСА

Рентгеноструктурный анализ (РСА, XDA) – это метод исследования строения тел, использующий явление дифракции рентгеновских лучей, метод исследования структуры вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентгеновского излучения. Дифракционная картина зависит от длины волны используемых рентгеновских лучей и строения объекта. Для исследования атомной структуры применяют излучение с длиной волны ~1Å, т. е. порядка размеров атома.

Методами рентгеноструктурного анализа изучают металлы, сплавы, минералы, неорганические и органические соединения, полимеры, аморфные материалы, жидкости и газы, молекулы белков, нуклеиновых кислот и т. д. Рентгеноструктурный анализ является основным методом определения структуры кристаллов. При исследовании кристаллов он даёт наибольшую информацию. Это обусловлено тем, что кристаллы обладают строгой периодичностью строения и представляют собой созданною самой природой дифракционную решётку для рентгеновских лучей. Однако он доставляет ценные сведения и при исследовании тел с менее упорядоченной структурой, таких, как жидкости, аморфные тела, жидкие кристаллы, полимеры и другие. На основе многочисленных уже расшифрованных атомных структур может быть решена и обратная задача: по рентгенограмме поликристаллического вещества, например легированной стали, сплава, руды, лунного грунта, может быть установлен кристаллический состав этого вещества, то есть выполнен фазовый анализ.

Действительное местоположение в 7-110