|
На этой сессии будут рассмотрены основы и расширенные приложения патентной аналитики. В частности, будут затронуты следующие вопросы:1. Рекомендуемые диаграммы; 2. Разделение и мульти выбор; 3. Метрики оценки патентов; 4. Технологический ландшафт. Ключевые слова: Патент, аналитика, технологический ландшафт, цена патента.
Дата: 16.05.2025 |
